艾德姆電子天平采用現(xiàn)代電子控制技術(shù)，利用電磁力平衡原理實(shí)現(xiàn)稱(chēng)重。即測(cè)量物體時(shí)采用電磁力與被測(cè)物體重力相平衡的原理實(shí)現(xiàn)測(cè)量，當(dāng)稱(chēng)盤(pán)上的加上或除去被稱(chēng)物時(shí)，則產(chǎn)生不平衡狀態(tài)，此時(shí)可以通過(guò)位置檢測(cè)器檢測(cè)到線圈在磁鋼中的瞬間位移，經(jīng)過(guò)電磁力自動(dòng)補(bǔ)償電路使其電流變化以數(shù)字方式顯示出被測(cè)物體重量。
對(duì)于一般物體的稱(chēng)量我們一般都采用直接稱(chēng)量法，然而對(duì)于某些特殊物體的稱(chēng)量，我們并不能按常規(guī)方法來(lái)處理，尤其是實(shí)驗(yàn)室中的化學(xué)試劑。下面小編帶大家來(lái)了解艾德姆電子天平的三種不同稱(chēng)量方法。
1、直接稱(chēng)量法：
此法是將稱(chēng)量物直接放在電子天平盤(pán)上直接稱(chēng)量物體的質(zhì)量。例如，稱(chēng)量小燒杯的質(zhì)量，容量器皿校正中稱(chēng)量某容量瓶的質(zhì)量，重量分析實(shí)驗(yàn)中稱(chēng)量某坩堝的質(zhì)量等，都使用這種稱(chēng)量法。
2、遞減稱(chēng)量法：
又稱(chēng)減量法，此法用于稱(chēng)量一定質(zhì)量范圍的樣品或試劑。在稱(chēng)量過(guò)程中樣品易吸水、易氧化或易與CO2等反應(yīng)時(shí)，可選擇此法。由于稱(chēng)取試樣的質(zhì)量是由兩次稱(chēng)量之差求得，故也稱(chēng)差減法。
3、固定質(zhì)量稱(chēng)量法：
此法又稱(chēng)增量法，此法用于稱(chēng)量某一固定質(zhì)量的試劑(如基準(zhǔn)物質(zhì))或試樣。這種稱(chēng)量操作的速度很慢，適于稱(chēng)量不易吸潮、在空氣中能穩(wěn)定存在的粉末狀或小顆粒(小顆粒應(yīng)小于0.1mg，以便容易調(diào)節(jié)其質(zhì)量)樣品。
注意：若不慎加入試劑超過(guò)質(zhì)量，應(yīng)先關(guān)閉升降旋鈕，然后用牛角匙取出多余試劑。重復(fù)上述操作，直至試劑質(zhì)量符合要求為止。嚴(yán)格要求時(shí)，取出的多余試劑應(yīng)棄去，不要放回原試劑瓶中。操作時(shí)不能將試劑散落于天平盤(pán)等容器以外的地方，稱(chēng)好的試劑必須定量地由表面皿等容器直接轉(zhuǎn)入接受容器，此即所謂“定量轉(zhuǎn)移”。
希望上述內(nèi)容能夠幫助大家更好的了解本設(shè)備。
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